目前薄膜瑕疵检测系统大多采用工业计算机、线扫描相机、旋转编码器和线型光源的方案。在生产时，由高亮LED组成的线型聚光冷光源采用透射或反射的方式照射在薄膜表面，通过与薄膜运行同步的旋转编码器触发，使架设在生产线上的线扫描相机同步扫描，将相机采集到的薄膜图像通过工业计算机上的采集卡实时传送给图像处理系统软件进行瑕疵识别处理。由于瑕疵图像的灰阶分布与正常图像的灰阶分布存在明显差异，从而使系统能够发现瑕疵，同时对瑕疵进行有效的判定、分类及后续处理。
在实际生产中，对于幅面较宽的薄膜，可以采用多个线扫描相机并行采集图像，同时传送给工业计算机的方式。然而随着幅宽增宽，生产运行速度更快，单位时间内采集得到的图像数据量更大，目前常见的图像处理软件方式越来越不能满足实时性的要求。无锡赛默斐视设计开发出一种基于FPGA的薄膜瑕疵在线检测系统，将主要的图像瑕疵识别和图像处理交给以FPGA为核心的图像处理单元，处理结果传送给工业计算机，这样可以更好地适应高速、高质量生产的要求。
无锡赛默斐视科技有限公司，成立于2014年，位于江苏无锡，成立初就开始从事表面瑕疵检测系统的研发与销售，目前，国内很多企业已跟我们公司有深入的合作！这更证明我公司在机器视觉工业应用领域的技术能力更上一层楼，不仅提高了公司的品牌知名度，保持技术领先优势，也提升公司的核心竞争力，对公司产品在表面检测领域的市场拓展产生积极的影响。
SIMV薄膜表面检测系统原理介绍：
薄膜表面瑕疵检测系统采用CCD照相机将被检测的目标转换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等信息，转变成数字化信号，系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的特征，如面积、数量、位置、长度，再根据预设的允许度和其他条件输出结果，包括尺寸、角度、个数、合格/不合格等，实现自动识别功能。从而代替人眼实现与生产线保持同步的在线检测。
无锡赛默斐视科技有限公司，通过几年时间在薄膜行业内的经验积累，以及积极的技术借鉴与开发，成为国内技术领先的“机器视觉、在线检测”的设备供应商。该公司的“SIMV薄膜表面检测系统”已被国内诸多薄膜龙头企业所运用，该系统的广泛运用标志着无锡赛默斐视科技有限公司在薄膜表面检测方面技术的成熟。（无锡赛默斐视科技拥有薄膜瑕疵在线检测系统实验平台，欢迎客户带样品来进行检测）
