德克萨斯大学阿灵顿分校的物理学家开发了一种新技术，可以在不包括底层信息的情况下测量材料最顶层原子层的属性。
yw.193. can优物来自犹他大学物理系正电子实验室的研究人员利用一种称为螺旋介导正电子粘附(AMPS)的过程开发了一种新的光谱工具，可以选择性地测量材料表面的电子结构。
发表在《物理评论快报》(PRL)上的一篇新文章“利用正电子粘附发射的虚光子的光电发射光谱:一禁app下载站长统计网址进入 种用于顶层表面电子结构的补充探针”详细介绍了这项新技术。此外，在线杂志《物理学》在该刊物上发表了一篇观点文章，题为“不划伤表面的光谱学”，这解释了为什么这篇论文对该领域很重要。PRL的编辑们委托撰写他们认为会引起广泛兴趣的观点文章。
正电子实验室的博士后学者Alex Fairchild是这项研究的主要作者。共同作者包括研究助理教授Varghese Chirayath;博士后研究员Randall Gladen;物理学教授阿里·科曼(Ali Koymen);以及犹他大学物理系教授兼系主任Alex Weiss。芬兰LUT大学的物理学教授Bernardo Barbiellini也对该项目做出了贡献。
AMPS过程中，正电子(电子的反物质)直接粘附在表面上，然后进行电子发射。2010年，研究生Saurabh Mukherjee和Weiss以及其他同事在UTA首次观察并描述了这个过程。这些结果发表在《PRL》的一篇论文上。
“Alex (Fairchild)和Varghese想出了如何利用我们在2010年发现的这种现象来测量顶层，并获得关于顶层电子结构和电子行为的信息，”Weiss说。“这将决定材料的许多性能，包括导电性，并对制造设备有重要影响。”
免费剧烈运动扑克视频软件Fairchild说，AMPS过程是独特的，因为它使用虚光子来测量最顶层的原子层。
费尔柴德说:“这不同于典型的技术，如光电发射光谱技术，在这种技术中，光子可以穿透材料的多层，因此包含了表面和次表层的综合信息。”
差差差很疼视频无掩盖无视频Chirayath说:“我们的AMPS结果显示，在正电子粘附后发射的虚光子如何更好地与延伸到真空深处的电子相互作用，而不是与更局限于原子位置的电子相互作用。”“因此，我们的研究结果对于理解正电子如何与表面电子相互作用至关重要，对于理解其他类似的基于表面选择的正电子技术也极为重要。”
Weiss指出，由于其正电子束的能力，UTA正电子实验室是目前唯一可以开发这种技术的地方。
Weiss说:“目前，UTA可能是世界上唯一一个拥有正电子束的实验室，可以降低观测这种现象所需的低能量。”
